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型 号 |
AP-CJ再加以下容积与温度范围组成型号） |
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50 |
80 |
100 |
150 |
252 |
360 |
480 |
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控制系统 |
平衡调温控制系统（BTC），以P.I.D.方式控制SSR |
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电子器件冲击箱/电子器件高低温冲击试验箱温 |
高度室 |
60℃～200℃ |
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预热时间 |
约20分钟 |
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低温室 |
A：－55℃～10℃ B：－70℃～10℃ C：－80℃～10℃ |
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预热时间 |
A：20℃～－55℃约60分钟 B：20℃～－70℃约75分钟 C：20℃～－80℃约90分钟 |
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试验室 |
A：－40℃～150℃ B：－55℃～150℃ C：－65℃～150℃ |
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恢复时间 |
高温暴露30分钟 |
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低温暴露30分钟 |
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5分钟以内 |
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温度波动度 |
±1.0℃ |
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温度偏差 |
≤±2.0℃ |
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内箱尺寸（W×H×Dcm） |
36×35×40 |
45×40×40 |
50×45×45 |
60×50×50 |
70×60×60 |
80×75×60 |
80×80×75 |
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外箱尺寸（W×H×Dcm） |
150×171×177 |
165×180×173 |
170×180×173 |
180×180×200 |
190×190×197 |
200×215×250 |
200×226×254 |
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试验重量(Kg) |
3.5 |
5 |
5 |
5 |
10 |
12 |
15 |
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内箱材质 |
SUS304高级不锈钢板 |
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外箱材质 |
SUS304高级不锈钢板或钢板静电喷涂表面处理 |
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保温材质 |
高密度聚胺酯泡沫及玻璃纤维 |
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电子器件冲击箱/电子器件高低温冲击试验箱