电子器件冲击箱|电子器件高低温冲击试验箱技术参数:
1.内箱尺寸最小：W350mm*H400mm*D350mm(本公司还有众多标准尺寸可选择,也可定制非标尺寸）
2.外箱尺寸：以实际尺寸为标准。
3.高温槽预热温度范围：+60℃～200℃；
4.升温时间： +60℃～200℃≤30min；
5.低温槽预冷温度范围： -75～-10℃；
6.降温时间： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降温时间为低温槽单独运转时的性能﹚
7.试验方式： 气动风门切换
8.温度冲击范围： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚
9.温度偏差： ±2.0℃
10.温度波动度： ±0.5℃
11温度恢复时间： ≤5分钟
12.试样限制：本实验设备禁止易爆、易燃、易挥发性物质试样的试验或储存；腐蚀性物质试样的试验或储存；
电子器件冲击箱|电子器件高低温冲击试验箱破坏能力超强，功率比普通高低温试验箱高出许多倍。所以技术难度及成本也相对高许多。该试验设备主要用于对电工、电子产品，以及其元器件等各类产品按照国家军用标准要求或用户自定要求，在高温与低温瞬间变化条件下，对原产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟试验，试验后，通过检测，来判断相关产品的性能是否仍然能够符合预定要求，以便供各类产品的设计、改进、鉴定及出厂检验用。如有需要请联系生产厂家东莞市爱佩试验设备有限公司,价格及质量上有绝对优势,欢迎前来咨询,谢谢。
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电子器件冲击箱与电子器件高低温冲击试验箱是一样的意思,针对的是同一类同一标准的试验箱,此类试验箱是专业提供给电子器件在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本试验箱不仅适合电子器件使用,还是光电、金属、塑料、LED、橡胶、电子等工业材料行业必备的试验设备，结构分为两箱式和三箱式，区别在于试验方式和内部结构不同，产品符合标准为：GB-T10592-2008、GB/T2423.2-2008试验B、GB/T2423.1-2008试验A 、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。